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| （1） 光学式浮遊帯域単結晶製造装置 （ＦＺ炉） |
ニチデン機械（株）製 ＮＥＣ ＳＣ-35ＨＤ
最高加熱温度2300℃，結晶成長速度0.2〜25ｍｍ/ｈ．
ＴｉＡｌ，MoSi2等の金属間化合物ならびにAｌ2O3等のセラミックス単結晶の作製が可能．
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| （2） 汎用型透過型電子顕微鏡 |
日本電子（株）製 JEM- 3010
試料の微細組織、変形下部組織（転位組織）等の観察に使用。
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| （3） 高分解式透過型電子顕微鏡 |
日本電子（株）製 JEM-2010
高分解能仕様であるため，原子像の観察も可能な透過型電子顕微鏡。
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| （4） ＥＤＳおよびＥＢＳＰ解析装置付走査型電子顕微鏡 |
JEOL 680A
微小領域の定量元素分析（EDS：Energy Dispersion X-ray
Spectrometry)および全自動結晶
方位解析装置（EBSP：Electron Back Scatter
diffraction Pattern)を装備した走査型電子顕微鏡.
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| （5） 走査型電子顕微鏡付高温疲労試験機 |
島津製作所製 JSM-840A
微小試験片による高温疲労試験，ならびに破壊課程の動的観察が可能．
最高加熱温度800℃，走査型電子顕微鏡の分解能5nm，最高倍率30000倍
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| （6） 高温引張、圧縮万能試験機 ： インストロン 4204 |
インストロン社製
（ネムス社製タングステン加熱高温炉装着）
室温から1800℃までの広い温度域，真空中での金属間化合物単結晶等の
引張および圧縮試験に使用．
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| （7） 高温引張、圧縮万能試験機 ： 島津オートグラフ |
金属間化合物単結晶等の引張および圧縮試験に使用．
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| （8） ブリッジマン型単結晶作製装置 |
・ 単結晶作製装置
・ 原料をるつぼ内で溶解後、炉ごと引き下げることにより単結晶を得る方法
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| （9） チョクラルスキー型単結晶製造装置 （CZ炉） |
・ 日新技研（株）製
・ 単結晶作製装置
・ 種結晶を融液につけ、回転させながら、ゆっくり引き上げる方法。
・ 半導体用単結晶 Si ウエハの作製などにも用いられる。
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| （10） マイクロヴィッカース硬度計 |
ＡＫＡＳＨＩ MVK-A
バルク、薄帯試料のヴィッカース硬度を簡便に測定することが可能．使用温度:室温．
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| （11） メルトスピン型超急冷凝固合金作製装置 |
日新技研（株）製 NEV-AT3型
汎用型高周波コイルを熱源とし、水冷ロール中上での液体急冷による非晶質および非平衡相リボン状試験片の作製が可能。
最高ロール回転速度 4000rpm.
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| （12） アーク溶解型急冷凝固溶融抽出紡糸装置 |
高融点材料用の直流アーク溶解方式により金属を溶解後、溶融抽出法により非晶質および非平衡相ワイヤーを作製。
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| （13） 原子間力顕微鏡 |
島津製作所製 SPM-9500型
原子スケールからミクロンスケールの材料表面の起伏および表面原子構造観察が可能．
繰り返し疲労試験片の固執すべり帯の定量的解析などに使用．
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| （14） X線ディフラクトメーター |
島津製作所製 XRD-6000
X線を用いて,結晶構造に起因した物性値,および3次元的な集合組織を測定する装置．
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| （15） 蒸着装置 |
・ 蒸着装置
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| （16） 強磁場発生装置 |
・ 電磁石により、強磁場を発生させる。(最大
1T)
・ 磁歪測定などに使用。
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| （17） 磁区観察用顕微鏡 |
・ カー効果を利用して、磁区観察が可能。
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| （18） 熱重量測定示差熱分析 （TG-DTA） |
・ 熱重量測定（TG）と示差熱分析（DTA）を同時に測定。
・ 材料の相変態挙動、酸化、脱水、ガス放出反応の測定。
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| （19） 示差走査熱量計 （DSC） |
・ 材料の相変態挙動、アモルファス、金属ガラス合金の結晶化挙動の解析。
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| （20） アトムシンニング装置 |
イオンテック社製
金属ならびにセラミックス等の非導電性結晶をアトムミリングにより研磨し，電子顕微鏡観察用薄膜試料を作成する．
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| （21） ディンプリングマシーン |
ダイヤモンドのやすりを用いて，試料表面に精密なディンプル（くぼみ）を作製する．
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| （22） 光学顕微鏡 |
・(左) ノマルスキー型微分干渉式光学顕微鏡
・(右) 温度制御可能光学顕微鏡
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| （23） 放電加工装置 |
・金属ワイヤーに電気を流し、加工液中で放電させ、その熱で金属を溶かし、加工する。
・材料にひずみを導入することなく、加工できる。
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