■エネルギー可変低速陽電子ビーム材料評価装置■ |
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任意のエネルギーに単色化した低速の陽電子ビームを試料中に入射させ、陽電子が試料内の電子と対消滅して放出するγ線のエネルギー分析を行って、表面・界面近傍のナノ構造欠陥の深さ分布を測定する装置。 |
■高速陽電子ビーム材料評価装置■ |
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陽電子線源と試料が空間的に離れた状態で陽電子寿命測定が可能なため、試料の形状・種類、測定条件に制約が無い。
従って、従来法では困難であった様々な条件下(高温、低温、応力下など)での格子欠陥のその場測定が可能になった。 |