SIP（戦略的イノベーション創造プログラム） – 統合型材料開発システムによるマテリアル革命 ～ 異方性カスタム設計・AM研究開発センター ～

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Determination of specific ion positions of Cr3+ and O2- in Cr2O3 thin films and their relationship to exchange anisotropy at Co/Cr2O3 interfaces

Y. Shiratsuchi Y. Nakano N. Inami T. Ueno K. Ono R. Kumai R. Sagayama R. Nakatani
Determination of specific ion positions of Cr3+ and O2- in Cr2O3 thin films and their relationship to exchange anisotropy at Co/Cr2O3 interfaces
Journal of Applied Physics, 123 (2018), pp.103903.
dx.doi.org/10.1063/1.5020620

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